動特性検査装置（ＡＣテスター）
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）の動特性検査（測定）装置です。
◆測定項目例 スイッチングタイム・負荷短絡・Tr・Tf・Td・Eon・Eoff・Irr・Trr・Err・Qg
静特性検査装置（ＤＣテスター）
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）を対象とした 静特性（DC特性）測定（検査）装置です。
◆測定項目例 Vf・If・Vr・Ir・Vgt・Igt・Hfe
熱抵抗測定器
過渡熱抵抗（ΔｍＶ）測定器
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）を対象とした 過渡熱抵抗測定（検査）装置です。半導体に規定の電力を消費させ、半導体チップの温度上昇をいろいろなパラメータから測定します。
パワーサイクル試験装置
パワーサイクル（ＰＣＴ、ＴＦＴ）試験装置
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）のパワーサイクル試験装置です。半導体に規定のパターンで電力を消費させ、疲労度や耐久性を検査するスクリーニング装置です。
オートハンドラー
オートハンドラー（モジュール／チップ）
各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Tr、Diode 等）用のオートハンドラーです。
◆検査ラインの構築にはなくてはならない搬送機です。
《コペル電子のノウハウに基づく大電力用オリジナルコンタクトが生かされています。》