各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等)の動特性検査装置・関連情報をご紹介します。

超低Ls(ストレーインダクタンス)動特性検査装置技術資料

個別製品のご紹介に先だって、コペル電子で実現している超低Ls動特性検査装置のデータをご紹介します。画像をクリックしてください。

スイッチング波形
パワー・モジュール用動特性検査装置

パワーモジュール用動特性検査装置
パワー・モジュール用動特性検査装置
各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のパワー・モジュールを対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。

ウェーハチップ単体用動特性検査装置

チップ用動特性検査装置
ウェーハチップ単体用動特性検査装置
各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。

PBCシリーズ 基準パルス発生器

パルス発生器パネル
PBCシリーズ基準パルス発生器
当社の開発現場から生まれた、動特性の検証にはなくてはならない機器です。パワーデバイス測定用のオシロスコープ・プローブの調整のために用いられ、45000V/μs以上の急峻な電圧波形を出力することにより、波形の歪みを厳しくチェックすることができます。

CSQシリーズ 位相補正器

位相補正器パネル
CSQシリーズ位相補正器
200V 100Aの同相パルスを出力するもので、オシロスコープで波形の立上りポイントを観測するだけでプローブの遅れ時間をチェックすることができます。この装置も当社の開発現場から生まれた、動特性の検証にはなくてはならない機器です。

 


上記製品および詳細ページに記載の製品は、弊社製品の一例としてご覧ください。 ほかの多くの製品はお客様との機密保持契約により、一般公開に制限がありますことをご了承ください。