各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等)の動特性検査装置をご紹介します。

超低Ls(ストレーインダクタンス)動特性検査装置技術資料

個別製品のご紹介に先だって、コペル電子で実現している超低Ls動特性検査装置のデータをご紹介します。画像をクリックしてください。

スイッチング波形

パワー・モジュール用動特性検査装置

パワーモジュール用動特性検査装置

各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のパワー・モジュールを対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。

 

 

ウェーハチップ単体用動特性検査装置

チップ用動特性検査装置

ウェーハチップ単体用動特性検査装置
各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。

 

 


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