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動特性検査装置

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各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のパワー・モジュールまたはウェーハチップを対象とした動特性検査装置(AC特性測定装置)です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。コペル電子ならではの超低Lsでの測定が可能です。

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静特性検査装置

dc300dc700

各種半導体(IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode 等)のパワー・モジュールまたはウェーハチップを対象とした静特性検査装置(DC特性測定装置)です。既製品では得られない、オーダーメイドならではのユニークな測定にも柔軟に対応します。

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熱抵抗測定器

delta300delta700

過渡熱抵抗測定装置は、IGBT / MOS-FET / Diode / BJT 等の過渡熱抵抗を測定する装置です。過渡熱抵抗測定器は、パワー半導体に指定の電力を印加し、チップ温度を上昇させ、その前後の微小電圧または微少電流の変化を検出し、これにより試料の熱抵抗を求めます。

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半導体検査装置・測定器 / テスト システム ・ 理科学機器

コペル電子は IGBT,IPM,P-MOS FET,SiC,GaN など各種パワー半導体用の
カスタム検査装置・測定器・検査機・テスターや理科学機器をお届けしています。

コペル電子はパワー用半導体検査装置・測定器/テスターのメーカーです。
電力用半導体の動特性・静特性・熱抵抗・パワーサイクル試験装置をカスタムメイドでお届けします。

エレクトロニクス、メカトロニクス、ソフトウエアの3本の柱によって支えられたコペル電子のテクノロジーは、独自の計測システムを通し、 半導体開発工程や生産工程、検査測定工程でのあらゆるご要求に幅広くお応えしています。


 

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