パワー半導体の信頼性試験に欠かせないパワーサイクル試験装置です。
パワーサイクル試験装置
パワーサイクル試験装置
本装置は、試料（IGBT、IPM、SiC、GaN、Diode 等）に、規定の電力を消費させ、決められた時間内で断続通電を行い、試料の信頼性試験を行う装置です。 同時に熱抵抗測定も可能であり、そのデータをHOST PCに取り込みます。
◇主な仕様
| 通電モード | 連続・間欠 （熱抵抗測定可能） |
| 通電電源 | 定電流 ～800A max 開放電圧 16V Vce設定 ～10.0V （IGBTの場合、VGEは自動コントロ－ル） |
| 時間設定 | 通電時間 0.5 ～ 600.0Sec 停止時間 １～ 3600Sec |
| 回数設定 | サイクル数（運転モード共通) 999999回 間欠動作回数（カウンタ－機能付き） 9999999回 |
| 動作モード | １）定電力 （IGBT） ２）VCE(ON) （IGBT・IPM） ３）VF （Diode） |
| 温度調整 | 強制空冷式ヒートシンク |
※本仕様は一例です。詳細はお問い合わせください。